该文介绍了荧光和荧光寿命的基本原理，并详细描述了荧光寿命测试的时域测量和频域测量方法。随后，文章重点阐述了显微荧光寿命成像技术（FLIM）及其在材料科学和生命科学领域的应用实例，包括宽场FLIM和激光扫描FLIM两种类型。最后，文章列举了显微荧光 ...

OmniFluo-FLIM系列显微荧光寿命成像系统基于显微和时间相关单光子计数技术，结合高精度位移台，实现荧光衰减曲线的空间分布测量，进而生成发光寿命图像。适用于光电半导体材料、荧光标记等领域的荧光寿命检测，覆盖纳秒至微秒量级，提供全面的数据处理和 ...